Caracterización composicional, estructural y microestructural de materiales por difracción de rayos X y ajuste Rietveld.

Mediante la difracción de rayos X y posterior tratamiento de los datos mediante el método de Rietveld es posible realizar una caracterización detallada y precisa de la composición, estructura y microestructura de un material cristalino. Los aspectos principales que pueden abordarse con estas técnicas son:

- Identificación de compuestos/fases presentes en un material
- Análisis cuantitativo de fases/compuestos presentes en un material
- Determinación de fracciones cristalina y amorfa
- Estimación de tamaño de cristalita y microdeformaciones
- Cálculo de parámetros de red
- Determinación de estructuras cristalinas
- El grupo cuenta con el equipamiento, bases de datos y software necesarios para realizar estos estudios.

Contacto

Dr. Facundo Castro (participan Dr. Julio Andrade Gamboa, Dr. Santiago Pighin)

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